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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10926/1024

Title: SIM Metrology School/Escola Internacional: Inmetro reúne especialistas de 32 países em encontro pioneiro do Sistema Interamericano de Metrologia
Other Titles: Na Medida: jornal interno do Inmetro e da Rede Brasileira de Metrologia Legal e Qualidade
Authors: Inmetro, Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia
Issue Date: 2010
Publisher: Rio de Janeiro: Inmetro, 1985 -
Citation: NA MEDIDA. Rio de Janeiro: Inmetro, 1985 - , Mensal.
Abstract: O Jornal Na Medida é uma publicação interna do Inmetro e Rede Brasileira de Metrologia Legal e Qualidade. Você pode participar enviando notícias para jornalismo@inmetro.gov.br.
Description: 8 p.: il. - Ano 25, n. 47 (jan.2010)
Additional Description: CONTEÚDO: Inmetro recebe Superbrands pela terceira vez / SIM Metrology School: inaugurada em evento no Rio de Janeiro a primeira escola do Sistema Interamericano de Metrologia / Missão europeia: Metrologistas da RBMLQ-I visitam Portugal, Espanha e Alemanha / Copel: transparência, isenção e rapidez nos processos de compra.
Document type: Periódico
Unit: Divisão de Comunicação Social
Appears in Collections:Na Medida - 2010

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