brasil.gov.br
DSpace

Inmetro  >
Metrologia >
Metrologia Científica e Industrial >
Metrologia Elétrica >
DIELE | Capítulo de livro >

Por favor, utilize esse identificador para citar este item ou usar como link: http://hdl.handle.net/10926/1636

Título: Bayesian inference in waveform metrology
Autores: Kyriazis, Gregory Amaral
Palavras-Chaves: Estatística Bayesiana
Incerteza de medição
Calibração de instrumento
Estatística : inferência
Data: 2012
Publicador: World Scientific Publishing Company
Citação: KYRIAZIS, G. A. Bayesian inference in waveform metrology. In: Pavese, F.; Bär, M.; Filtz, J.; Forbes, A. B. ; Pendrill, L. ; Shirono, K. (eds.). Advanced mathematical and computational tools in metrology and Testing IX. New Jersey: World Scientific Publishing Company, 2012. p. 232-243. (Advances in Mathematics for Applied Sciences, v. 84)
Resumo: A Bayesian approach to spectrum analysis is here applied to waveform metrology. The objective is the analysis of deterministic signals contaminated by additive noise that are generated and measured for instrument calibration purposes. The method uses approximations based on the normal distribution and posterior mode which are valid for large sample sizes and/or high signal-to-noise ratios. It can be easily implemented with those commercial laboratory software packages routinely used by metrologists for controlling instrumentation and reporting measurement results. Its performance is confirmed here through several computer simulated examples.
Descrição: 12 p. : il.
Descrição Adicional: Advances in Mathematics for Applied Sciences, v. 84 __________________.
Trabalho apresentado no evento - Conference on Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing (AMCTM 2011), Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden, June 20-22, 2011.
Tipo de documento: Capítulo de Livro / Book Chapter
Unidade: Divisão de Metrologia Elétrica - DIELE
Aparece nas Coleções:DIELE | Capítulo de livro

Arquivos neste Item:

Arquivo Descrição TamanhoFormato
2012_Kyriazis_AMCTM_2011_5_final.pdfCapitulo de livro128,06 kBAdobe PDFSob Embargo
Sumary_book_8432_toc.pdfSumario completo (Livro)48,28 kBAdobe PDFSob Embargo
Estatísticas

Este item está licenciado com Licença Creative Commons
Creative Commons

Itens protegidos por copyright, com todos os direitos reservados, Salvo indicação em contrário.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2007 MIT and Hewlett-Packard - Fale conosco